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Asteria高速亮度工業(yè)級光度計

高速亮度、照度和Flicker閃爍測量

Asteria系列光度計適合于亮度、照度和Flicker閃爍測量。基于我們已有的成熟平臺，Asteria是專門為需要內(nèi)置強(qiáng)大計算能力、易于產(chǎn)線集成和快速得到測試結(jié)果的產(chǎn)線應(yīng)用開發(fā)的。

Asteria可以提供兩種配置：鏡頭配置可以用于測量亮度(cd/m2)和flicker。余弦校正探頭配置可以用于測量照度(lux)和flicker。

Asteria系列特點(diǎn)：

亮度或者照度測量，探測器響應(yīng)匹配人眼響應(yīng)曲線（CIE1931）

支持液晶行業(yè)(Contrast,JEITA,VESA)和燈具行業(yè)(percentage, Index)所有6種flicker計算方法.

所有計算儀器內(nèi)部完成，包括JEITA，便于系統(tǒng)集成

得益于高速的采樣頻率和大的內(nèi)存，可以同時測量高頻信號和低頻信號（比如1Hz）

支持外部觸發(fā)功能，適合產(chǎn)線應(yīng)用

支持大部分的編程語言Labview / Labwindows / Visual Studio (C++, C#, VB)/ 等

USB和RS232通訊接口

基本參數(shù)

測量參數(shù)

參數(shù)	范圍	準(zhǔn)確性	重復(fù)性
分辨率	15bit for X,Y and Z	>78dB
亮度(Y)	0.002cd/m2-15000cd/m2 積分時間1ms-5s之間	±4%測量值	Y:±0.2% for Y at 0.1cd/m2
			Y:±0.1% for Y at 1cd/m2
			Y:±0.05% for Y at 5cd/m2
			Y:±0.03% for Y at 150cd/m2
測量速度	4-10次/秒(0.1cd/m2); 10-20次/秒(1cd/m2); 20-100次/秒(>5cd/m2);
Flicker (contrast method)	1cd/m2或更高亮度	±2% Flicker frequency:30Hz AC/DC 10% sine wave @ 10Cd/m2	±1%
Flicker (Jeita method)	1cd/m2或更高亮度	±2dB Flicker frequency:30Hz AC/DC 10% sine wave @ 10Cd/m2	±1dB
工作溫度	10-35℃

Asteria高速亮度工業(yè)級光度計

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