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Product catalog

精密定位系統/平移臺

2023
12.12

性能評估與校準：確保高速鎖相放大器的準確性和可靠性

高速鎖相放大器是一種廣泛應用于科學實驗和工程實踐中的高精度測量設備。它能夠實現對微弱信號的放大、濾波和相位鎖定，為各種復雜系統的研究、設計和生產提供重要的技術支持。為了保證鎖相放大器的準確性和可靠性，性能評估和校準是至關重要的環節。性能評估是指對高速鎖相放大器的各項性能指標進行全面的分析和評估，包括噪聲、線性度、動態范圍、頻率響應等。這些指標直接影響到鎖相放大器的測量精度和可靠性。通過對這些指標進行評估，可以全面了解鎖相放大器的性能特點，為后續的校準工作提供依據。校準是確保高...
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2023
11.22

熱烈祝賀：昊量光電喜獲瑞士Pi lmaging Technology公司中國獨代

熱烈祝賀：昊量光電喜獲瑞士PilmagingTechnology公司中國獨代近日，上海昊量光電設備有限公司與瑞士PilmagingTechnology公司成功簽署了獨代協議。后續昊量光電將作為瑞士PilmagingTechnology在中國地區的獨家代理商全權進行中國地區的商業活動及售后服務。昊量光電憑借專業的技術實力和全面周到的服務贏得了廣泛的客戶好評和信任，也獲得了瑞士PilmagingTechnology公司的高度認可和信賴，期待未來雙方的合作能夠帶來更多的共贏和發展。...
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2023
11.16

單縱模激光器在光通信和精密測量中的應用

單縱模激光器是一種特殊的激光器，其輸出激光模式既是單縱模又是單橫模。這種激光器具有高頻率精度、窄譜線寬度和穩定性等特點，因此在光通信和精密測量等領域有著廣泛的應用。單縱模激光器在光通信和精密測量領域中有著廣泛的應用：在光通信領域，單縱模激光器具有高頻率精度、窄譜線寬度和穩定性等特點，是光纖通信和光纖傳感領域最重要的光源之一。由于其輸出譜線窄、具有良好的相干性，因此在鈉導星技術、多普勒測風雷達、光通信、精密測距、引力波探測、非線性光學、工業以及國防等領域發揮著重要的作用。在精密...
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2023
10.12

高光譜相機：探索世界的多彩圖像之窗

高光譜相機是一種先進的光學設備，通過捕捉和分析物體的多個波段光譜信息，展示出豐富多彩的圖像。它在農業、環境監測、地質勘探等領域發揮著重要作用。高光譜相機與傳統相機不同之處在于它可以同時獲取目標物體在數十甚至數百個離散波段上的反射譜線數據。其原理是利用光學成像技術和高分辨率光譜傳感器，在可見光和紅外光譜范圍內實現高精度波段分離和采集。通過對不同波段的光譜信息進行分析和處理，此相機能夠識別和區分目標物體的組成、結構和狀態，提供更加豐富和準確的圖像信息。高光譜相機在許多領域具有廣泛...
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2023
9.15

單縱模激光器的特性及其應用

激光器自問世以來，已在眾多領域中發揮著重要作用，而單縱模激光器作為一種特殊的激光器，因其具有較高的光譜純度和方向性，在許多應用場景中具有du特的優勢。一、特性頻率或波長選擇性：最重要的特性是它具有頻率或波長選擇性，即它只允許特定波長或頻率的激光在諧振腔內振蕩，從而避免了多模振蕩帶來的噪聲和能量損失。高光束質量：由于單縱模激光器只輸出一個頻率或波長的激光，因此其光束質量很高，發散角小，方向性好，可以用于精確的測量和加工。高轉換效率：轉換效率通常較高，因為其工作原理是通過對特定波...
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2023
6.21

原子磁力計：探索微觀世界的新利器

隨著科技的不斷進步，人類對于物質本質和微觀世界認識也在逐漸深入。而在這個過程中，儀器設備的發展與應用扮演了重要角色。近年來，一種新型測量工具——原子磁力計受到越來越多關注，并成為探索微觀世界、研究基礎物理和開發相關應用領域的一種強有力工具。原理及構造從名稱上看，“原子磁力計”是指借助于單個或幾個原子響應外部磁場變化進行測量并確定其強度大小和方向性質的一項技術。相比傳統電子式或SQUID(超導量子干涉器)磁力計等機械式儀表,原子磁力計更加靈敏高效，在極小范圍內能夠檢測到非常微弱...
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2023
6.1

【重磅發布】Moku 3.0版本升級！Moku:Lab新增支持云編譯、多儀器并行

【重磅發布】Moku3.0版本升級！Moku:Lab新增支持云編譯、多儀器并行LiquidInstruments推出Moku3.0版本重要升級。此次更新將shou次對Moku全線三款產品同時升級，尤其很多客戶期待已久的Moku:Lab的固件升級。通過此次升級，Moku三款設備整合到同一個應用程序進行操控，不僅提高了用戶體驗和代碼可移植性的一致性，并且確保更高的開發效率，加快未來功能增強的速度。Moku3.0版本Moku:Go新增支持相位表功能，為所有Moku:Pro儀器提供了...
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2023
5.26

非接觸式金屬膜厚測量儀常見故障及處理方法

非接觸式金屬膜厚測量儀通常用于測量金屬薄膜的厚度，例如在半導體、涂料、電子元件制造等領域中。它可以通過使用光學或放射性技術來測量薄膜的厚度，并且不需要與被測物體接觸，從而避免了可能對樣品造成的損傷或污染。原理：非接觸式金屬膜厚測量儀主要通過測量被測物表面反射的光強來確定金屬膜的厚度。該測量儀使用一個激光或LED發射器照射被測物表面，然后測量反射光的強度并將其轉換為金屬膜的厚度數據。該測量方法具有高精度、高速度和非接觸等優點，適用于金屬薄膜的厚度測量。非接觸式金屬膜厚測量儀常見...
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